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Robotrontechnik-Forum » Technische Diskussionen » D004 DRAM-PROGRAMM-Fehler » Themenansicht

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Thread - Seiten: -1-

000
07.12.2012, 18:18 Uhr
robbi
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Ein interessantes D004 liegt auf dem Arbeitstisch:
KEIN Lötstoplack, keine Änderungen mit den Ferritkernen auf den Widerstandsbeinchen, aber Firmware V3.3 !
Das WAIT-Signal war ständig Low: es lag am D507/11 (HCT00) mit hochohmigem Ausgang. Dadurch bekam D408/11 keinen Takt (offener Eingang) und konnte nicht gesetzt werden. Es kam zum "Koppel-RAM Programm: Fehler" .

Sicherheitshalber habe ich auch alle üblichen Änderungen vorgenommen und komme nun bis zum DRAM-Test.
Ist der Rechner kalt, läuft der Test durch:

Aber schon beim zweiten Durchlauf bleibt er beim Programm-Test hängen.

Eine ähnliche Diskussion bringt mich nicht weiter.

Frage:
Was ist beim DRAM-Test anders als beim DRAM-Programm-Test? Ich sehe in beiden Fällen Schreibzugriffe.

Nachtrag:
Beim Erstellen des Beitrages war auf einmal der halbe Text verschwunden???
--
Schreib wie du quatschst, dann schreibst du schlecht.

Dieser Beitrag wurde am 29.03.2014 um 00:37 Uhr von robbi editiert.

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001
05.01.2013, 16:03 Uhr
robbi
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Nach längerer Fleißarbeit:
Der Fehler lag an einem werksseitig falsch bestückten Widerstand im Taktgenerator der D004. Original muß R502 220 Ohm betragen, bestückt war er mit 2,2 kOhm. Dadurch konnte das folgende Gatter nicht richtig schalten (nur bei kaltem Widerstand). Das führte zum gelegentlichen Aussetzen einzelner Taktimpulse und war mit einem analogen Oszi nicht zu erkennen.

Wozu ist der Widerstand überhaupt nötig, gegen Oberwellen??? Habe so etwas noch nie gesehen.
--
Schreib wie du quatschst, dann schreibst du schlecht.

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002
09.01.2013, 22:06 Uhr
maleuma

Der Unterschied der dRAM-Tests:
- dRAM-Test: Das Testprogramm läuft im KOPPEL-RAM ab und testet Schreib-/Lesbarkeit der dRAM-Arbeitszellen.
- dRAM-Programm: Das Testprogramm läuft im dRAM ab.
Der Befehlscodezyklus ist zeitkritischer als der Speicherlesezyklus.
--
Mario.

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