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21.01.2026, 22:08 Uhr
rm2
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Hallo an alle,
bei der Analyse der Leiterplatten im RECHENWERK ist mir merkwürdiges
an K2526 uns auch K2521 Leiterplatten aufgefallen.
Als Test fungierte das Programm Einzel-Bit-Prüfung EBP6_0116
was speziell für K2526 zum Dauertest von 64K dRAM-Karten
entwickelt wurde.
Jeweils in der 4. Zeile erfolgt die Blockdarstellung Speichertest mit
(00, FF, AA, 55 und zusätzlich Beschreiben Zellen -34 bis +3 (roter Rahmen).
Darunter das Ergebnis der Einzel-Bit-Prüfung (H-aktiv). Und darunter,
wenn erkennt, die ersten fehlerhaften Zellen.
Beispiel K2526: (keine RAM-Karte gesteckt)
http://www.k1520.com/robotron/K2526_LP1.jpg
http://www.k1520.com/robotron/K2526_LP2.jpg
Was kann die Ursache dieses Verhaltens sein?
Mit beiden Karten wurden eine Reihe von RAM-Karten getestet.
mfg ralph
--
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http://www.ycdt.net/mc80.3x . http://www.ycdtot.com/p8000
http://www.k1520.com/robotron http://www.audatec.net/audatec
http://www.ycdt.de/kkw-stendal
Dieser Beitrag wurde am 21.01.2026 um 22:09 Uhr von rm2 editiert. |
